RFID電子標(biāo)簽天線的作用

在由無源標(biāo)簽天線組成的射頻識別系統(tǒng)中性能穩定，電子標(biāo)簽必須從RFID讀寫器生成的電磁場或電磁波中獲得能量激活標(biāo)簽芯片。因此作用，電子標(biāo)簽的部分電路用于檢測標(biāo)簽天線上的感應(yīng)電動勢或感應(yīng)電壓研學體驗，通過二極管電路整流，通過其他電路放大電壓等最為突出。這些電路集成在存儲器標(biāo)簽芯片內(nèi)落實落細。芯片封裝時，通常會引入部分分布式容量高效化。但是天線設(shè)計本身不需要知道芯片的特定電路製高點項目，只需要掌握芯片和封裝的芯片阻抗，利用大能量傳遞的規(guī)律設(shè)計天線的輸入阻抗即可範圍和領域。

對于在超高頻和微波波段工作的標(biāo)簽天線，為了抵消芯片的耐受性結構重塑，需要在天線設(shè)計中添加環(huán)形結(jié)構(gòu)來提供感性聽得懂，或者添加T型等結(jié)構(gòu)。此外高質量發展，為了在規(guī)定的等效全向輻射功率中獲得更遠的讀取距離全方位，電子標(biāo)簽天線也具有較高的增益。此外影響力範圍，電子標(biāo)簽天線和RFID芯片之間需要足夠的匹配大局。

RFID電子標(biāo)簽天線的設(shè)計

設(shè)計和模擬標(biāo)簽天線并獲得所需結(jié)果后，必須對天線進行加工和測試邁出了重要的一步，以驗證設(shè)計和模擬的準(zhǔn)確性有序推進。上述標(biāo)簽天線具有多個阻抗特性，測試方法和具有實際阻抗天線的測試方法不同需求。此外堅定不移，同一電子標(biāo)簽天線的測試程序取決于所需的數(shù)據(jù)，并取決于測試方法更讓我明白了。一般來說迎難而上，在測試天線的過程中，不需要特別測試天線的輸入阻抗探索。但是堅持先行，標(biāo)簽天線的阻抗是負阻抗，虛擬部分和實際部分的大小比較大，因此，這些阻抗曲線在Smith餅圖中靠近段落圓經驗分享，通過Smith網(wǎng)絡(luò)圖很難觀察到天線的阻抗帶寬。為了獲得標(biāo)簽天線的輸入阻抗持續向好。測試設(shè)備的輸出端口可以直接連接到天線的輸入端口。這是因為不考慮標(biāo)簽天線本身的多重阻抗特性。天線和測試設(shè)備之間沒有共軛匹配，不能直接獲得測量天線常用的電路參數(shù)參與水平，如散射矩陣參數(shù)和駐波比大型。

電路用于標(biāo)簽天線測試。但是簡單化，使用匹配電路有一些缺點：

使用上述匹配電路進行測試的方案不僅可以獲得正確的帶寬和東波損失等參數(shù)的有效手段，還必須測試天線的圖案和增益等輻射特性進行部署。只有通過阻抗分布電路，天線接收的大部分能量才能基本上無反射地傳遞到測試系統(tǒng)自動化裝置，測試其輻射參數(shù)示範。

RFID電子標(biāo)簽天線應(yīng)用重點